便携式IGBT测试仪加工值得信赖
(2)主要技术参数1)基本参数功率源:5000V1200A2)栅极-发射极漏电流IGESIGES:0.1-10uA±2%±0.01uA集电极电压VCE:0V栅极电压Vge:0-40V±3%±0.1V3)集电极-发射极电压集电极电压VCES:100-5000V±2%±10V集电极电流ICES:0.1-5mA±3%±0.01mA栅极电压Vge:0V4)集电极-发射极饱和电压VCESatVCESat:0.2-5V栅极电压Vge:±15V±2%±0.2V集电极电流ICE:10-1200A±2%±1A5)集电极-发射极截止电流ICES集电极电压VCE:100-5000V±3%集电极电流ICES:0.1-5mA±3%±0.01mA栅极电压VGE:0V6)栅极-发射极阈值电压VGEth:1-10V±2%±0.1VVce:12V集电极电流ICE:30mA±3%7)二极管压降测试VF:0-5V±2%±0.01VIF:0-1200A±2%±1AVge:0V欲测知元件老化,所须提供的测量范围为何?当大功率元件在作导通参数的测试时,电流必须大到其所能承受的正常工作值,同时,在作关闭参数的漏电流测试时,电压也必须够高,以元件在真正工作状态下的电流与电压,如此其老化的程度才可显现。公司拥有一批长期从事自动控制与应用、计算技术与应用、微电子技术、电力电子技术方面的人才。当这两个参数通过后,便表示元件基本上良好,再进一步作其他参数的测量,以分辨其中的优劣。建议进行高温测试,模拟器件使用工况,更为准确的判断器件老化程度。主要参数测试范围精度要求测试条件Vce集射极电压150~3300V150~500V±3%±1V;500~1000V±2%±2V;1000~3300V±1%±5V;150~3300VIc集射极电流1~200A1~200A±3%±1A;1~200AVge栅极电压-30V~30V-30~0V±1%±0.1V;0~30V±1%±0.1V-30V~30VQg栅极电荷400~20000nCIg:0~50A±3%±0.1mA;400~20000nCtd(on)、td(off)开通/关断延迟10~1000ns10~200±2%±2ns;200~1000±2%±5nstr、tf上升/下降时间10~1000ns10~200±2%±2ns;200~1000±2%±5ns;Eon、Eoff开通/关断能量1~5000mJ1~50mJ±2%±0.1mJ;50~200mJ±2%±1mJ;200~1000mJ±2%±2mJ;1000~5000mJ±1%±5mJ;)
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