大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。配合量测样品，自由架构量测平台。本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCDCell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型Ｘ－Ｙ平台以及偏光光学系，测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角（含ＭＶＡ）的系统。通过多折射位相差（RE.）来计算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，测定精度高。保修期：从验收日开始计算1年以内。保证内容：但是，在操作说明书等有另外保证期间等的规定时候，按照那个规定。在保证期间内，万一制造中的不完备导致本产品的故障无偿给予修理。但是本产品的故障原因是符合下记情况时保证除外对。偏光计测模组是用CCDcamera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。万一，下记条件未被满足的场合，本系统的性能有可能无法发挥其100%.请注意。)