下照式设计：可以快速方便地***对焦样品。无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。精密微型滑轨：快速精准***样品。EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。同时具有以下特点快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上***的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。无损：测试前后，样品无任何形式的变化。直观：实时谱图，可直观显示元素含量。测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，X射线测厚仪，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，抽真空可以测试从Na到U。可靠性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种***的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。（一）、外部结构原理图X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，测厚仪，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。（二）、各种外部结构的特点1、上照射方式用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。①、Z轴的移动方式根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），镀层测厚仪，一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可***。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前***主流的分析设备类型。手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，***比较容易的测试对象。荧光测厚仪、测厚仪、一六仪器(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（）是一家***从事“测厚仪,标准片”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“江苏一六仪器”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使一六仪器在行业专用设备中赢得了众的客户的信任，树立了良好的企业形象。特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！)