红外测厚仪：泛用于检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。代表机型:DJH系列RX-210，RX-400红外测厚仪特点1、与X射线比较设备价格低；2、测量厚度范围广，0~40mm左右，但只能测试单层膜厚。3、测量误差大，5%左右，分辨率0.1um以上。4、测头的面积偏大，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（20mmψ左右），但可配备购买多种测头，面对不同的形状和材质需进行校正江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有***的技术，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！膜厚仪检测的方法国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，钟表膜厚仪，多适用于抽样检验。业内认可的常用方法一、磁性式1，价格经济，约1千~2万，具体材料的差别需另外购买测头，高精密膜厚仪，且镀膜的种类有限制。2，无损检测，膜厚仪，使用简便，方便检测大型的工件，体积小，约400cm2，300g左右。3，测量厚度范围广，非金属2~2000um左右，金属镀层2~40um左右，但只能测试单层膜厚。4，测量误差大，5%左右，分辨率低，1um左右。5，***膜厚仪，测头的面积偏大，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（7mmψ左右），基材厚度在0.35mm以上，而且面对不同的形状和材质都需进行校正二、涡电流式三、红外测厚仪四、电解式（库伦法）五、金相测试法六、非***荧光式（***）***膜厚仪,一六仪器(在线咨询),膜厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”就选江苏一六仪器有限公司（），公司位于：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，多年来，一六仪器坚持为客户提供好的服务，联系人：冯女士。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴！)