测厚仪分类：一、磁性式二、涡电流式三、红外测厚仪四、电解式（库伦法）五、金相测试法六、非***荧光式（***）具体讲下涡流测厚仪原理如下：1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，PCB镀层测厚仪，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。激光测厚仪的技术指标介绍激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，磁钢测厚仪，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，复合镀层测厚仪，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。常见几种测厚仪的工作原理是什么：2、测厚仪原理--X射线测厚仪X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，测厚仪，是一种非接触式的动态计量仪器。3、测厚仪原理--超声波测厚仪超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。复合镀层测厚仪_能量色散X荧光光谱测厚仪_测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（）位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前一六仪器在行业专用设备中拥有较高的知名度，享有良好的声誉。一六仪器取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。)