大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！应用范围■光学薄膜?相位差膜、椭圆膜、相位差板?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光学材料■液晶层?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、强诱电性液晶)?反射型液晶层(TN,STN)相位差光学材料量产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。RETS-100闪电发货OTSUKA相位差/光学材料量测设备,日本大塚电子；FPD相关的检查和评价设备：动态画面反应时间检测仪：MPRT-2000,相位差/光学材料量测设备：RETS-100,发货OTSUKA,日本大塚电子液晶显示器LCD面板LCD-5200；本软件，通过自动制御偏光三棱镜单元和瞬间多通道测光检出器以及自动ＸＹ平台来实施cellgap检查每个样品都备有检查菜单，并且样品可自动运输，操作员只需选择检查菜单便可轻松完成的测定。本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型Ｘ－Ｙ平台以及偏光光学系，测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角（含ＭＶＡ）的系统。本Software自动制御偏光Pri***unit和MCPD，测量LCDCellGap以及Pre-tilt角的测量。每个Sample品种，会准备Recipe（测量条件File）所以Operator放置Sample后，选择Recipe，即可实现测量。)