大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。配合量测样品，自由架构量测平台。在相位差膜等光学膜中，要求有高透明性、低光弹性率、耐热性、耐光性、高表面硬度、高机械强度、大相位差、相位差的波长依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作为表现透明树脂材料光学各向异性的方法，可以进行膜的拉伸配向。已知通过该拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜显示出负双折射性，由聚^J吏酯(PC)或环烯烃类树脂(COP)所形成的膜显示出正双折射性。测定haze补正用样品（与被测定样品相同haze特性AG-TAC）,取得其补正table.反复性能。(保证值)是利用本装置附属的基准样本(偏光板)的测量结果（0.1s间隔定点15回连续测量）。将粘贴面有漏出的样品贴合与样品治具上，反转治具测定，玻璃上贴附样品的场合，将超出部分的film***与基准面，只反转样品进行测定。因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。)