一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005um镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:1.磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。2.涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。4.电解测厚法此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。5.测厚法此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。X-RAY测厚仪特点1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。3，测量厚度范围较广，0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。6，可编程XYZ测量台及大移动范围。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪一六仪器X荧光光谱测厚仪镀层分析X射线荧光光谱特点1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。2.可测试超薄的镀层。3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。8.可以对样品进行测试9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样)