相位差光学材料量产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。光学薄膜?相位差膜、椭圆膜、相位差板?偏光膜、附加***偏光膜、偏光板、别的光学资料■液晶层?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、强诱电性液晶)?反射型液晶层(TN,STN)购买须知1、厂家货源正i品日本原装。2、关于尺码按照出厂产品资料有说明。3、关于颜色4、关于***客户全天24小时在线，如需紧急处理，请致电公司。5、关于***日本产品保修一年，消耗品不再维修范围内。本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCDCell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型Ｘ－Ｙ平台以及偏光光学系，测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角（含ＭＶＡ）的系统。通过多折射位相差（RE.）来计算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，测定精度高。)