非接触式三维光学静态变形测量系统
价格:160000.00
非接触式三维光学静态变形测量系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。可测量0.3m~30m范围的物体,采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,计算被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据。变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是一开始状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点匹配稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置数模对比功能:数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置非接触式三维光学静态变形测量系统典型型号参数如下:型号XTDP-IXTDP-IIXTDP-DEF相机像素2400万2400万2400万测量范围0.3-10m0.3-30m0.3-10m测量精度&plu***n;0.025/m&plu***n;0.015/m&plu***n;0.025/m更多关于非接触式三维光学静态变形测量系统产品信息敬请咨询)
苏州西博三维科技有限公司
业务 QQ: 1067290099