目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（GD-OES）和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型***性样品检测，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。X射线荧光光谱测厚仪操作流程测厚仪的操作流程1.打开仪器电源开关2.打开测试软件3.联机4.打开仪器高压钥匙，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右5.待机30分钟6.打开测试腔放入标准元素片Ag，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰7.点击峰位校正图标按照提示进行操作8.根据已知样品信息新建（或选择）合适的产品程式9.点击资料图标，根据客户需求调整相关测量参数10.放置样品：打开测试腔，将样品需要测试的一面大致朝向测试窗，边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置进而达到测试要求位置11.调整焦距：使用仪器左侧焦距调整旋钮，使得软件测试画面尽可能清晰12.开始测量：点击开始测试图标，射线测厚仪，进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试13.数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，镀层测厚仪，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差14.生成报告：点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整，还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告15.整理反馈：对测试结果进行分析和整理，可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X***区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。X射线荧光光谱仪特点1、一种真正意义上的无损分析，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。2、分析速度快，X荧光测厚仪，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，测厚仪，X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。3、自动化程度高。4、可以同时测定样品中的多种元素。5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。6、样品的形态广。7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。测厚仪,镀层测厚仪,射线测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（）坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支***的员工***，力求提供好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。一六仪器——您可信赖的朋友，公司地址：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，联系人：冯女士。)