X射线荧光镀层膜厚测量仪http:///st332859/ml日立X射线荧光镀层膜厚测量仪特点：1．显微领域的高精度检测X射线荧光镀层膜厚测量仪通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30μm（设想FWHM：17μm）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上。2．产品阵容适应各类检测样本针对检测样本的不同种类，可在下列3种型号中进行选择。●测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号●能够处理尺寸为600mm×600mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号●适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号3．兼顾易操作性与安全性放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用。4．检测部位可见通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。5．日立X射线荧光镀层膜厚测量仪有着清晰的样本图像使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清晰地观察数十μm的微小样本。另外，亦采用LED作为样本观察灯，无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。6．新GUI将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等，因此登记、整理起来就很方便，从而使得用户可以不走弯路，直接进行检测。使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动，逐步引导用户执行当前所需进行的工作。)