FE3000反射式膜厚量测仪:产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。可在软件上设定激发光源的波长及步值，实现自动测量电流-量子效率曲线电流-光通量曲线电流-功率曲线电流-色温曲线电流-色坐标曲线电流-显色性曲线电流-电压曲线荧光材料样品所反射的激发光，在积分球内壁上反射，并再次照射到荧光材料样品上，发出荧光的现象叫做再激发。为了修正这个荧光发光的成份，如图所示，改变Xe激发光（投光用光纤）的角度，将激发光的照射点改为样品口的硫i酸钡（或Spectralon）一面来进行测试。这样可以将对积分球内壁上漫反射引起的再激发荧光成份进行测试，实行修正。本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。光纤在极度弯曲后会有可能发生断裂。故,请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤,以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。)