芯片L-IV测试源表认准普赛斯仪表，国产自主研发，性价比高，测试范围更广，输出电压高达300V，支持USB存储，一键导出报告，符合大环境下国内技术自给的需求，可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案，及时指导客户编程，加速测试系统开发，详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六产品简介S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的***国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，***大输出电压达300V，***小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。芯片L-IV测试源表技术参数***大输出功率：30W，4象限源或肼模式；源限度：电压源：&plu***n;30V（≤1A量程），&plu***n;300V（≤100mA量程）；电流源：&plu***n;1.05A（≤30V量程），&plu***n;105mA（≤300V量程）；过量程：105%量程，源和测量；稳定负载电容：<22nF；宽带噪声(20MHz)：2mVRMS（典型值），<20mVVp-p（典型值）；线缆保护电压：输出阻抗1KΩ，输出电压偏移<80uV；***大采样速率：1000S/s；触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；通信口：RS-232、GPIB、以太网；电源：AC100~240V50/60Hz；工作环境：25&plu***n;10℃；尺寸：106mm高×255mm宽×425mm长；更多有关芯片L-IV测试源表信息请联系一八一四零六六三四七六)