3.1开通时间Ton测试原理框图图3-1开通时间测试原理框图其中：Vcc试验电压源±VGG栅极电压C1箝位电容Q1陪测器件（实际起作用的是器件中的续流二极管）L负载电感：100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换IC集电极电流取样电流传感器DUT被测器件开通时间定义（见下图）：栅极触发信号第二个脉冲上升的10%到集电极电流IC上升到10%的时间间隔为开通延迟时间td（on），变频器用IGBT测试仪厂家，集电极电流IC上升的10%到90%的时间间隔即为电流上升时间tr，封装用IGBT测试仪厂家，则ton=td（on）tr技术要求3.1整体技术指标3.1.1功能与测试对象*1）功能GBT模块动态参数测试。*2）测试对象被测器件IGBT模块动态参数。测试温度范围Tj=25°及125°。3.1.2IGBT模块动态测试参数及指标测试单元对IGBT模块和FRD的动态参数及其他参数的定义满足国际标准IEC60747-9以及IEC60747-2。以下参数的测试可以在不同的电压等级、电流等级、温度、机械压力、回路寄生电感以及不同的驱动回路参数下进行。5、***负载5.1有效电感L1002005001000μH；5.2电流Ic100010001000500A；外部电感成阵列的内部连接。（外部电感的H值传给PC，上海IGBT测试仪厂家，以计算电流源的极限，大功率IGBT测试仪厂家，限制脉宽到1000us）。6、标准的双控制极驱动6.1门极电阻可人工预先设定如：2.5Ω，5Ω，10Ω等；6.2开启（Trun-ON）输出电压Vge：15V；6.3关断（Trun-ON）输出电压Vge-：-15V；6.4脉宽：10~1000us（单脉冲、双脉冲总时间）；6.5电压开关时间：6.6输出内阻：上海IGBT测试仪厂家-华科IGBT测试系统由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司（.cn）在电子测量仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情，华科智源一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。相关业务欢迎垂询，联系人：陈少龙。)