X射线的产生利用X射线管(图2)，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生X射线。从设计上分为横窗型(sidewindowtype)和纵窗型(endwindowtype)两种X射线管，都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。X射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。{选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：根据IPC规程，三元合金测厚仪，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因为测量点很小，复合镀层测厚仪，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，达克罗测厚仪，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，测厚仪，可以确保镀层测量的准确性。2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行高精度测量。3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，***多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。4、Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。测厚仪、三元合金测厚仪、一六仪器(优质商家)由江苏一六仪器有限公司提供。行路致远，砥砺前行。江苏一六仪器有限公司（）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为行业专用设备较具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)