选择X荧光光谱镀层检测仪的四个理由：1、无损检测镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的***性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是excellent镀层无损检测方法。2、强化品质管控X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质管控的前提。3、提升生产力传统的检测技术，既耗时又耗人力，而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，膜厚测厚仪，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。4、提升市场竞争力X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持excellent的竞争优势。镀层分析X射线荧光光谱特点1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。2.可测试超薄的镀层。3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，X射线测厚仪，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。8.可以对***样品进行测试9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X***区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。X射线荧光光谱仪特点1、一种真正意义上的无损分析，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。2、分析速度快，电镀膜厚仪，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，测厚仪，X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。3、自动化程度高。4、可以同时测定样品中的多种元素。5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。6、样品的形态广。7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。光谱测厚仪(图)_X射线测厚仪_测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。行路致远，砥砺前行。江苏一六仪器有限公司（）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为行业专用设备较具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)