本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，FE3000厂家，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。应用范围■FPD?LCD、TFT、OLED(有机EL)■半导体、复合半导体?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料■资料储存?DVD、磁头薄膜、磁性材料■光学材料?滤光片、抗反射膜■平面显示器?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED■薄膜?AR膜■其它?建筑用材料FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目：量子效率测定，FE膜厚仪，量子效率的激发波长依赖特性，FE，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。解析非线性***i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/***适化法基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性3D显示功能（面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图）本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。FE3000膜厚仪-FE-大塚电子有限公司由大塚电子(苏州）有限公司提供。大塚电子(苏州）有限公司（.cn）实力雄厚，信誉可靠，在江苏苏州的机械加工等行业积累了大批忠诚的客户。公司精益求精的工作态度和不断的完善创新理念将***大塚电子和您携手步入辉煌，共创美好未来！)