大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点膜厚测量中必要的功能集中于头部。通过显微分光高精度测量绝i对反射率（多层膜厚、光学常数）。1点只需不到1秒的高速tact。实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）。通过区域传感器控制的安全构造。搭载可私人定制测量顺序的强大功能。即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。各种私人定制对应（固定平台，有嵌入式测试头式样）。膜厚测试仪的预热关机超过3个小时开机必做。点击“波数”，将波谱校准片放入仪器，将Ag部分移至十字线中间，镭射聚焦，设定测量时间为6S重复测量次数为30~50次,点击Go键，等待自动连续测量完成。如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。)