Pulsarx-ray***13066828879高解析度X90x-ray检测系统是为了满足半导体封装厂商、电子组装生产、电子器件生产中检察质量而设计的高解析度微焦无损检测系统。特点高解析度微焦,高性价比优异性能,安全可靠操作简便,快速检测免维护,闭式X金属射线管大视角FOV,移动灵活标准PCB尺寸:Max406x457mm机器尺寸:762X813X1610mm(WXDXH)倾斜角度:Max30°X-ray源:90kV,5micronMicrofocus放大倍数:650倍Fov:upto35mm标配电脑、打印机15”平板液晶显示器(可选17”)以太网卡WindowsXP操作系统成像应用软件(标准))