大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。FE3000反射式膜厚量测仪：原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。应用范围■FPD?LCD、TFT、OLED(有机EL)■半导体、复合半导体?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料■资料储存?DVD、磁头薄膜、磁性材料■光学材料?滤光片、抗反射膜■平面显示器?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED■薄膜?AR膜■其它?建筑用材料基本规格(1)测试样品及环境(a)样品：粉状样品(2)仪器的功能(a)激发荧光样品，对荧光光谱进行测试。(b)为了消除积分球内反射的激发光而激发的荧光，配有“再激发修正”功能。(c)具有对样品的量子效率、反射、吸收作测试的功能。(d)样品设置采用手动方式。(e)可实现控温和量子效率测试同步进行的功能。(3)仪器的构成(a)暗箱内部置有积分球光学系统。(4)温控单元(a)50℃～300℃(cell部分)(b)采用加热器加热、风冷制冷。(c)温控部分的周围采用冷却水循环、断热。(d)控制用温度探头是一个具备***的防止过度升温的温度探头。)