HP4145A半导体参数测试仪可以快速的对半导体器件和材料进行直流参数测试。特性如下：1、半导体器件全自动、高速直流测试；2、具有高分辨率、宽测量范围：I:1pA-100mA,V:1mV-100V；3、***大分辨率1150；4、内置微型软盘，可存储240个用户程序或105个测试结果。HP4145B半导体参数分析仪是设计用于半导体的生产线和实验室，它是电子工业中***个可以***对半导体器件和材料进行直流测试的仪器。它通过对器件加电压，测电流，或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。南京奥威主要从事PCM测试相关软件的开发和工艺线系统集成，公司同时可为客户提供EG1034/2001/2010，WENTWORTHMP2020等探针台，HP/Agilent公司的HP4062UX/HP4142B/HP4145/HP4084/HP4085/HP4275A/HP4280/HP8772测试仪和Keithley公司S900A/S280/S350测试仪，STS310/PTI790/Oxford80等离子体增强化学气相淀积设备，STS320/PTI790/PTI730/xford100反应离子刻蚀设备和STSICP/PTIICP/OxfordICP电感耦合等离子体刻蚀等各类进口半导体仪器、设备及备品备件、软件升级开发和相关***服务工作。公司一贯以高质量的产品、优质的服务、合理的价格来满足各类客户需求。欲了解详情，请登陆我公司网站http://。)