洁净室检测{电子厂房检测}——电子厂房检测——随着科学技术的发展，电子产品生产日新月异，以微电子产品为代表的各种电子产品生产技术发展迅速。所以非单相流洁净室、洁净区的送风量及相应的换气次数，是主要关注的气流测试项目。现代电子产品要求微型化、高纯度、高质量和高可靠性，以人们熟悉的手机、笔记本电脑为例，它所使用的集成电路、电子元器件以及其组装的生产过程都要求在受控环境条件下进行操作，其中以集成电路生产过程对受控环境的要求尤为严格。电子产品的种类繁多，随着微型化、精密化、高纯度、高质量和高可靠的电子产品品种的增加，需要在空气悬浮粒子受控环境中进行全过程生产或部分生产的电子产品主要有:半导体材料及其器件生产、集成电路生产、化合物半导体生产、光电子生产、薄膜晶体管液晶显示器TFT-LCD生产，微硬盘驱动器HDD生产、等离子显示器PDP生产、磁头和磁带生产、光导纤维生产、印刷电路板、芯片制造、封装等。(4)若达不到以上标准的要求，应重新调整新风量、排风量、至合格为止。电子工业洁净厂房生产环境的设计应根据生产工艺的要求控制微粒和对产品质量***的杂质，同时还应提出温度、湿度、压差、噪声、振动、静电防护、照度等参数要求。{***空气过滤器检漏}方法——***空气过滤器检漏方法——PAO/DOP过滤器检漏气胶光度计测试法是***早期的测试方式，但是因为效果非常好，到今天仍旧沿用。就算是FFU系统，天花板上是负压，若是边框机有微粒日后仍旧会产生问题。气胶光度计（AerosolPhotometer）是微粒计数器的一种，也是使用雷射科技，但是它在扫描空气样本的微粒之后，所给的是微粒的总体强度，不是微粒数目。DOP是一种油性化学物质，加压或加热雾化之后，可以产生次微米等级的微粒，可用来无尘室的微粒，因此被当成验证微粒。1泄漏的定义是泄漏出上游浓度万分之一，由于气胶光度计可以直接显示上下游微粒浓度的比值，因此扫描滤网非常方便。检测项目：风量（换气次数）、新风量、风速、压差（静压差）、温度、相对湿度、噪声、照度、***空气过滤器检漏、悬浮粒子（空气洁净度等级）、浮游菌、沉降菌、自净时间、表面染菌密度等。也正因其准确、可靠，美***品与***管制局（FDA）规定，在其管辖范围内（食品加工场所与制药场所），所有的滤网泄漏测试必须使用DOP与气胶光度计。近年来由于人们怀疑DOP会导致，因此多改用PAO。PAO和DOP的特性类似，使用上无多大差异。{洁净室检测}***过滤器检漏的前提1、提前拆除***过滤器的散流板。2、洁净区要进行清洁，净化系统提前运行。3、被检漏过滤器必须已测过风量，在设计风速的80%~120%之间运行。检漏的重要性1、检漏试验是粒子测定的基础，其重要性不亚于粒子测定。2、检漏试验和空气流速达到了规定要求，气流均匀度也在规定的控制范围内，则洁净度当然有了保证。检漏方法1、气溶胶作尘源，与气溶胶光度计配合。常用气溶胶：邻ben二甲酸二辛酯（DOP），因其具有致突变性，现多采用聚α－烯烃（PAO)。2、大气尘作尘源，与粒子计数器配合。)