大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。半积分球。大塚电子独有专利，提高积分球测试效率一倍，更易于样品的装夹，切换迅速（世界范围内独i家）；(2)多次激发修正。大塚电子独有专利，***i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发,对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独i家）；(3)光谱可扩展,光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4)可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）不锈钢样品池及高精度石英材质光学窗口，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于固体、粉末及薄膜样品测试（数量5个），尺寸直径≤10mm)