相位差光学材料量产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)***适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的高精度相位差量测。光学薄膜?相位差膜、椭圆膜、相位差板?偏光膜、附加***偏光膜、偏光板、别的光学资料■液晶层?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、强诱电性液晶)?反射型液晶层(TN,STN)用基准Sample实施设备，偏光pri***unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。本装置是photonic结晶偏光子arrayh和CCDcamera构成的专用偏光计测模组和透过偏光光学系相结合进行测定椭圆率，方位角、从偏光film.位相差film贴合品的两面之测定，进而演算其吸收轴，光轴，相对角、RE的装置。本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCDCell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Samplestage。Calibration时，自动set基准sample。本软件，通过自动制御偏光三棱镜单元和瞬间多通道测光检出器以及自动ＸＹ平台来实施cellgap检查每个样品都备有检查菜单，并且样品可自动运输，操作员只需选择检查菜单便可轻松完成高精度的测定。)