大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。下图为积分半球光学系统。投光光纤和采光光纤的安装位置、半球/***积分球的种类会与实际情况有所不同。(本次系统采用的是积分半球)。荧光材料样品所反射的激发光，在积分球内壁上反射，并再次照射到荧光材料样品上，发出荧光的现象叫做再激发。为了修正这个荧光发光的成份，如图所示，改变Xe激发光（投光用光纤）的角度，将激发光的照射点改为样品口的硫i酸钡（或Spectralon）一面来进行测试。这样可以将对积分球内壁上漫反射引起的再激发荧光成份进行测试，实行修正。)