FE3000反射式膜厚量测仪：原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。应用范围■FPD?LCD、TFT、OLED(有机EL)■半导体、复合半导体?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料■资料储存?DVD、磁头薄膜、磁性材料■光学材料?滤光片、抗反射膜■平面显示器?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED■薄膜?AR膜■其它?建筑用材料大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！下图为积分半球光学系统。投光光纤和采光光纤的安装位置、半球/***积分球的种类会与实际情况有所不同。(本次系统采用的是积分半球)。荧光材料样品所反射的激发光，在积分球内壁上反射，并再次照射到荧光材料样品上，发出荧光的现象叫做再激发。为了修正这个荧光发光的成份，如图所示，改变Xe激发光（投光用光纤）的角度，将激发光的照射点改为样品口的硫i酸钡（或Spectralon）一面来进行测试。这样可以将对积分球内壁上漫反射引起的再激发荧光成份进行测试，实行修正。)