FE3000反射式膜厚量测仪:产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，FE膜厚仪，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。可在软件上设定激发光源的波长及步值，FE，实现自动测量电流-量子效率曲线电流-光通量曲线电流-功率曲线电流-色温曲线电流-色坐标曲线电流-显色性曲线电流-电压曲线光纤在极度弯曲后会有可能发生断裂。故，请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤，大塚FE3000，以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。粉状物用cell用磁铁固定在样品口上（使用温控系统时用无磁铁的夹具固定）。Xe激发光（投光光纤）的照射位置可由积分球上方放置的监控窗口（图上显示）来进行确认。请将激发波长设置到可视光范围内确认。本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。光纤在极度弯曲后会有可能发生断裂。故，FE-3000，请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤，以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。FE-苏州大塚电子公司-FE膜厚仪由大塚电子(苏州）有限公司提供。大塚电子(苏州）有限公司（.cn）坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支技术过硬的员工***，力求提供好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。大塚电子——您可信赖的朋友，公司地址：苏州工业园区苏州大道西1号世纪***大厦1幢609，联系人：曹先生。)