荧光材料样品所反射的激发光，FE，在积分球内壁上反射，并再次照射到荧光材料样品上，FE膜厚仪，发出荧光的现象叫做再激发。为了修正这个荧光发光的成份，如图所示，改变Xe激发光（投光用光纤）的角度，将激发光的照射点改为样品口的硫i酸钡（或Spectralon）一面来进行测试。这样可以将对积分球内壁上漫反射引起的再激发荧光成份进行测试，FE3000价格，实行修正。本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，FE3000，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！关于冷却水的更换没有特定的时间要求，可目视，发现水有污垢时请更换冷却水。更换时请用自来水或是软水（不可使用纯水，如使用纯水，会和空气中的CO2结合形成酸性环境，从而导致冷却装置内部遭到腐蚀）。FE3000-苏州大塚电子公司-FE由大塚电子(苏州）有限公司提供。行路致远，砥砺前行。大塚电子(苏州）有限公司（.cn）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为机械加工具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)