GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能）关键词：四探针，电GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能）是为了更方便的研究在高温条件下的半导体的导电性能，该系统可以完全实现在高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率和外延层、扩散层和离子层的方块电阻及测量其他方块电阻。该系统广泛应用于高等院校和科研院所，是科研的重要设备。二、符合：1、符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、2、符合GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》3、符合美国A.S.T.M标准二、产品应用：1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）电阻率/方阻4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量6、可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻三、主要技术参数温度范围：RT-1000℃升温斜率：0-10℃/min(典型值：3℃/min)控温精度：&plu***n;0.1℃电阻测量范围：0.1mΩ~1MΩ电阻率测量范围：100nΩ..cm~100KΩ.cm测量环境：惰性气氛、还原气氛、真空气氛测量方法：四线电阻法，探针法测试通道：单通道或是双通道样品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm,d＜5mm电极材料：铂铱合金电极（耐高温，***化）绝缘材料：99氧化铝陶瓷数据存储格式：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件数据传输：USB符合标准：ASTM供电：220V&plu***n;10%，50Hz工作温度：5℃至+40℃；工作湿度：+40℃时，相对湿度高达95%（无冷凝）设备尺寸：L360mm*W370mm*H510mm重量：22kg)