RS6501光回波损耗测试仪详细说明：简介RS6501回波损耗测试仪可方便测试光纤跳线、光器件及光传输系统的回波损耗和插入损耗测试。其性能达实验级，不仅适合光器件生产厂家使用，亦能满足科研院校对光通讯系统的研发要求。仪器内内置双波长高稳光源，插入损耗和回波损耗测试结果可同时显示，内部软件的智能判断、数据存贮功能使操作非常方便，避免误操作。RS6501回波损耗测试仪测试端口为FC/APC，接上与之匹配的测试线即可测试各种不同类型的跳线（例如：测SC/APC跳线则需配用FC/APC转SC/APC的测试线）。RS6501智能光回波损耗测试仪具有GP-IB接口功能,可以方便地组成自动测试系统,适应自动化测量的要求。,测试结果稳定可靠。主要技术指标型号RS6505显示插损、回损测量结果、操作提示工作波长1310、1550、1310/1550nm（其他波长可选）回损测试范围0～70dB功率测量范围-80～+10dBm回损准确度&plu***n;0.5dB*功率计准确度&plu***n;0.25dB回损分辨率0.1dB插损分辨率0.01/0.001dB工作温度0～+45℃电源AC220V,50W连接类型FC/APC(输出)；FC/SC/ST（插损输入）注*：回损>65dB时为&plu***n;1.5dB)