阻抗分析仪HIOKIIM3570供应优欧阳R:13537229325日置HIOKIIM3570阻抗分析仪简介：日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。日置HIOKIIM3570阻抗分析仪特点：1、基本精度±0.08%的高精度测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。2、LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量。3、日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。4、1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。日置HIOKIIM3570阻抗分析仪技术参数：测量模式LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量测量参数Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q测量量程100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）日置IM3570阻抗分析仪显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）基本精度Z：±0.08%***.θ：±0.05°测量频率4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）测量信号电平V模式，CV模式（普通模式）50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）CC模式（普通模式）10μA~50mArms，10uArms步进（1MHz以下）10μA~10mArms，10uArms步进（1.0001MHz以上）输出阻抗普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω显示彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF测量时间0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2其他功能DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能接口EXTI/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN电源AC90~264V，50/60Hz，大150VA打印拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）日置IM3570阻抗分析仪接口GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)电源AC90~264V，50/60Hz，大150VA体积和重量330W×119H×307Dmm，5.8kg附件电源线×1)