泰克keithley4200-SCS半导体参数分析仪-电流电压曲线测试
价格:16999.00
主要性能指标I-V源测量单元(***U)±210V/100mA或±210V/1A模块100fA测量分辨率选配前端放大器提供了10aA测量分辨率10mHz-10Hz超低频率电容测量100μF负载电容四象限操作2线或4线连接C-V多频率电容单元(CVU)AC阻抗测量(C-V,C-f,C-t)1kHz-10MHz频率范围±30V(60V差分)内置DC偏置源,可以扩展到±210V(420V差分)选配CVIV多通道开关,在I-V测量和C-V测量之间简便切换脉冲式I-V超快速脉冲测量单元(PMU)两个***的或同步的高速脉冲I-V源和测量通道200MSa/s,5ns采样率±40V(80Vp-p),±800mA瞬态波形捕获模式任意波形发生器SegmentARB®模式,支持多电平脉冲波形,10ns可编程分辨率高压脉冲发生器单元(PGU)两个高速脉冲电压源通道±40V(80Vp-p),±800mA任意波形发生器SegmentARB®模式,支持多电平脉冲波形,10ns可编程分辨率I-V/C-V多通道开关模块(CVIV)在I-V测量和C-V测量之间简便切换,无需重新布线或抬起探针把C-V测量移动到任意端子,无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/开关模块(RPM)在I-V测量、C-V测量和超快速脉冲I-V测量之间自动切换把4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安降低电缆电容效应)
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