企业视频展播，请点击播放视频作者：苏州振鑫焱光伏科技有限公司隐裂、热斑、PID效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。3.识别“隐裂”的方法EL（Electroluminescence，电致发光）是一种太阳能电池或组件的内部缺陷检测设备，是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理，擦银布回收利用，通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。下图即是EL的检测结果，石家庄银布，清晰的显示了各种缺陷和隐裂。隐裂、热斑、PID效应，擦银布回收报价，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。1.什么是“隐裂”隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺陷，擦银布回收，通俗的讲，就是一些肉眼不可见的细微（micro-crack）。晶硅组件由于其自身晶体结构的特性，十分容易发生。在晶体硅组件生产的工艺流程中，许多环节都有可能造成电池片隐裂。隐裂产生的根本原因，可归纳为硅片上产生了机械应力或热应力。现在为了降低成本，晶硅电池片向越来越薄的方向发展，降低了电池片防止机械***的能力，更容易产生隐裂。3、太阳能电池片由太阳能硅片制成，中间需经过一系列复杂的处理工艺，譬如扩散、制绒、蚀刻、镀膜、检测、印刷电极等。4、太阳能电池片转换效率跟形状的关系圆角的是单晶硅电池片，方角矩形的是多晶硅电池片，同一种电池片的转换效率也是有高低的，按高转换率来说，单晶硅电池片的确比多晶硅电池片要高，当然，转换率高的多晶也会比相对低的单晶要高。)