一款基于14插槽AXIe主机的多通道比特误码率测试仪解决方案，适用于多路测试。***新比特误码率测试仪使用***新的M8070A系列软件（3.0版本）。M8000系列比特误码率测试解决方案提供了对多通道应用更快速的洞察。  电子设备与系统不断增加的复杂性，更高的数据速率，使这些设备的测试面临更多挑战。当速率较低时，单路测试即可满足要求。但是，如果数据速率较高，工程师可能会遇到更多的串扰问题。因此，针对不同干扰源和干扰信号应用多路测试就变得十分重要。例如PCIe?3具有高达16个差分8Gb/s通道，还有10Gb/sPON、40GbE和100GbE，要求4至10个10Gb/s通道。在测试设置中广泛使用射频开关切换会增加信号的额外损耗和反射。工程师现在使用新的M8030A多通道比特误码率测试仪，无需再使用这些射频开关。主要特性与技术指标数据速率高达8.5/16Gb/s，用于码型发生器和误码检测器。通过M8062A32Gb/sBERT前端，可扩展至32Gb/s高度整合和校准过的抖动注入：RJ、PJ1、PJ2、SJ、BUJ、正弦干扰（共模和差摸）、***（三角波、任意波形和剩余噪声）高达20dB的8分接去加重（正值和负值）综合可调的ISI，可用于损耗仿真支持8GT/s和16GT/s速率的SAS-3、USB3.0/3.1和PCIExpress交互式链路训练IEEE10GBASE-KR、25GBASE-KR和100GBASE-KR4的交互式TxEQ训练内置时钟数据***和均衡可以与用于M8000BER系列的M8070A软件进行系统集成。与BERT/示波器和任意波形发生器紧密配合工作)