企业视频展播，请点击播放视频作者：苏州振鑫焱光伏科技有限公司光伏组件PID效应是什么意思？提及光伏组件，必然要注意其两大效应，一个是热斑效应，一个是PID效应，那么，光伏PID效应是什么？PID的英文全称是：PotenTIalInducedDegradaTIon，即电势诱导衰减。2005年美国SunPower公司发现并提出PID效应，指组件长期在高电压工作，在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池片表面的钝化效果恶化，导致填充因子、短路电流、开路电压降低，朝阳电池片，使组件性能低于设计标准，但此衰减是可逆的。也有研究发现并对PID效应作出解释：光伏组件在受到负偏压时，由漏电流阳极离子（一般为Na离子）流入电池片，降低电池的并联电阻。即，回收抵债返修电池片，半导体内出现了杂质，这些杂质会形成电池内部的导电通道，降低了组件的电流输出。按硅片直径划分：硅片直径主要有3英寸、4英寸、6英寸、8英寸、12英寸（300mm），目前已发展到18英寸（450mm）等规格。直径越大，在一个硅片上经一次工艺循环可制作的集成电路芯片数就越多，每个芯片的成本也就越低。因此，更大直径硅片是硅片制各技术的发展方向。但硅片尺寸越大，对微电子工艺设各、材料和技术的要求也就越高。按单晶生长方法划分：直拉法制各的单晶硅，称为CZ硅（片）;磁控直拉法制各的单晶硅，称为MCZ硅（片）;悬浮区熔法制各的单晶硅，称为FZ硅（片）;用外延法在单晶硅或其他单晶衬底上生长硅外延层，称为外延（硅片）。测试流程制定6）再次同步测量环境中太阳辐照度、组件温度及环境气温，确保在IV特性曲线测量期间，辐照度和温度并未发生突变；7）根据测量数据，计算IV特性曲线上大功率点，填充系数等特征参数，将所有数据打包，存储于SD卡内，本次IV特性曲线扫描结束。当1组数据测量完成，平台可根据用户设定，控制光伏组件工作于开路、短路或大功率等状态，回收客退实验电池片，直到下1次测量开始，可检测光伏组件长期处于特定状态工作性能。为避免环境辐照度或温度变化对所测IV特性曲线的影响，回收库存电池片多少钱，使所测曲线更加光滑，能否快速的扫描IV特性曲线至关重要。在上述测量流程中，AD转换器对光伏组件IV特性曲线上每个点同步测量时间约80μs，测量一组IV特性曲线数据需用时约22ms，一般而言，该测量时间内几乎不会出现环境辐照度或温度突变的状况。在所测数据存入SD卡之后，DSP同时将测量数据封装为UDP包，通过以太网模块，经由测试平台路由器，发送至上位机，上位机在接收到每个UDP包后，都给予接收应答。基于VB.NET编程技术，设计了上位机监控程序，它与DSP通信，并将数据存储于SQLServer数据库内，便于用户对组件户外长期工作性能分析和评估。)