了解更多试块信息请登录：http:///1、JIS-STB-A1(与IIW试块相同)2、JIS-STB-A2(用单探头或双探头法进行斜角探伤时，用于探伤灵敏度的调整或表示。也可用于探伤仪的综合分辨力的测定和表示)3、JIS-STB-A3(作为A1和A2试块现场用的辅助标准试块，可用于入射点的确定、时间轴的调整、时间轴原点的修正、折射角和探伤灵敏度的确定)4、JIS-STB-G(用于各种调整、***小探伤距离的检定等)。尺寸和形状见图、表。V2~V8都加工有φ2平底孔,和V15-2一样用于2~15mm探伤距离下的灵敏度特性试验，反射脉冲高度在规定值±1db以内。V15-1~V15-5.6钻有φ1.0~φ5.6mm平底孔,相邻孔底的面积比依次为2倍。即用于探伤灵敏度的调整。)