企业视频展播，请点击播放视频作者：钢研纳克检测技术股份有限公司对比试样校准测量方法覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，对比试样校准，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。对比试样校准测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，对比试样校准方案，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，对比试样校准报价，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。对比试样校准测量结果差别大？探头的放置方法对测量有很大影响，在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长，避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头，对比试样校准哪家好，由于这么不仅对探头会形成磨损，也不会得到的测量成果。别的，基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常，假如离电磁场十分近时还有也许会死机。北京纳克无损公司(图)-对比试样校准报价-对比试样校准由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。“无损检测检验,无损校准评价,无损检测系统,无损检测仪器”选择钢研纳克检测技术股份有限公司，公司位于：北京市海淀区高梁桥斜街13号，多年来，北京纳克无损坚持为客户提供好的服务，联系人：刘经理。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。北京纳克无损期待成为您的长期合作伙伴！)