封装用IGBT测试仪批发-华科半导体器件测试仪
测试参数多且完整、应用领域更广泛,封装用IGBT测试仪厂家,但只要使用其基本的2项功能:「开启」电流压降,「关闭」电流的漏电流,就可知道大功半导体有没有老化的现象。?可移动型仪器,使用方便,封装用IGBT测试仪批发,测试简单快速,立即提供测试结果与数值。?适用的半导体元件种类多,尤其能测大功率元件。?用户能确实掌握新采购元件的质量,封装用IGBT测试仪,避免用到瑕疵或品。?完全由计算机控制、快速的设定参数。?适用于实验室和老化筛选的测试。?操作非常简单、速度快。?完全计算机自动判断、自动比对。6)短路保护放电回路紧急情况下快速放电,保证紧急情况时快速使设备处于安全电位。?回路耐压DC10kV?放电电流10kA(5ms)?工作温度室温~40℃;?4验收和测试3)验收试验应在-10~40℃环境温度下进行,验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。工作湿度目的和用途该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。7测试夹具1、控制方式:气动控制2、控温范围:室温—150℃室温—125℃±1。1.2测试对象IGBT、FRD、肖特基二极管等功率半导体模块2.测试参数及指标2.1开关时间测试单元技术条件开通时间测试参数:1、开通时间ton:5~2000ns±3%±3ns2、开通延迟时间td(on):5~2000ns±3%±3ns3、上升时间tr:5~2000ns±3%±3ns4、开通能量:0.2~1mJ±5%±0.01mJ1~50mJ±5%±0.1mJ50~100mJ±5%±1mJ100~500mJ±5%±2mJ5、开通电流上升率di/dt测量范围:200-10000A/uS6、开通峰值功率Pon:10W~250kW封装用IGBT测试仪批发-华科半导体器件测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司是一家从事“IGBT测试仪,功率器件测试仪,首件检测仪”的公司。2反向***技术条件测试参数:1、Irr(反向***电流):50~1000A50~200A±3%±1A200~1000A±3%±2A2、Qrr(反向***电荷):1~1000uC1~50uC±5%±0。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“华科智源,HUSTEC,”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使华科智源在电子测量仪器中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!)