参数名称符号参数名称符号开通延迟时间td(on)关断延迟时间td(off)上升时间tr下降时间tf开通时间ton关断时间toff开通损耗Eon关断损耗Eoff栅极电荷Qg短路电流ISC//可测量的FRD动态参数参数名称符号参数名称符号反向***电流IRM反向***电荷Qrr反向***时间trr反向***损耗Erec为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，并使其效能降低。数据提取：测试数据可存储为Excel文件及其他用户需要的任何数据格式，特别是动态测试波形可存储为数据格式。长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，检修用IGBT测试仪，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，检修用IGBT测试仪现货供应，所以，必须即早发现更换。静态及动态测试系统技术规范供货范围一览表序号名称型号单位数量1半导体静态及动态测试系统HUSTEC-2010套11范围本技术规范提出的是限度的要求，检修用IGBT测试仪厂家，并未对所有技术细节作出规定，检修用IGBT测试仪批发，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货方应提供符合工业标准和本技术规范的产品。1）可调充电电压源用来给电容器充电，实现连续可调的直流母线电压，满足动态测试、短路电流的测试需求。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，应按较高标准执行。检修用IGBT测试仪-华科IGBT测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司位于深圳市宝安区西乡街道智汇创新中心B座606。可移动型仪器，使用方便，测试简单快速，立即提供测试结果与数值。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前华科智源在电子测量仪器中享有良好的声誉。华科智源取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。华科智源全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。)