半导体元件除了本身功能要良好之外，其各项参数能否达到电路上的要求，必须定期测量，否则产品的质量特性很难保证，便携式IGBT测试仪加工，尤其是较大的功率元件，便携式IGBT测试仪现货供应，因具有耗损性，易老化及效率降低，因不平衡导致烧毁，甚至在使用中会发生。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。C：脉冲宽度50uS~300uSD：Vce测量精度2mVE：Vce测量范围>。半导体元件的每一个参数，依其极性的不同，都须要一个的测量电路，我公司所设计生产的半导体元件自动测试系统，具有一组继电器形成的矩阵电路，便携式IGBT测试仪，依每个参数的定义，形成千变万化的电路，再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后，在极短的时间内将所须要的数据量测出来，且有些参数从量测的数据经快速运算即可得知其特性是否在规定范围内。目的和用途该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。200~1000±2%±5nstr、tf上升/下降时间10～1000ns10~200±2%±2ns。1.2测试对象IGBT、FRD、肖特基二极管等功率半导体模块2.测试参数及指标2.1开关时间测试单元技术条件开通时间测试参数：1、开通时间ton：5～2000ns±3%±3ns2、开通延迟时间td(on)：5～2000ns±3%±3ns3、上升时间tr：5～2000ns±3%±3ns4、开通能量：0.2～1mJ±5%±0.01mJ1～50mJ±5%±0.1mJ50～100mJ±5%±1mJ100～500mJ±5%±2mJ5、开通电流上升率di/dt测量范围：200-10000A/uS6、开通峰值功率Pon：10W～250kW9、系统保护功能9.1有完备的安全控制单元，动态测试设备有传感器来保证操作者安全，设备任何门被打开均能快速切断高压电源。9.2有急停按钮，当急停按钮被按下时，迅速切断所有高压电源。9.3系统带有短路保护功能，在过载时迅速断开高压高电流。9.4操作系统带有多级权限。9.5系统应配有内置ups，保证计算机系统在电网短时间掉电情况下，为系统供电0.5小时以上，确保系统及数据安全。10、样品夹具10.1有通用测试夹具。10.2带有62mm封装测试夹具10.3带有EconoPACK3封装测试夹具10.4带有34mm封装测试夹具便携式IGBT测试仪价格-华科智源-便携式IGBT测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司在电子测量仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情，华科智源一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估，通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。相关业务欢迎垂询，联系人：陈少龙。)