其中：Vcc试验电压源±VGG栅极电压C1箝位电容Q1陪测器件（实际起作用的是器件中的续流二极管）L负载电感：100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换IC集电极电流取样电流传感器DUT被测器件关断时间采用单脉冲测试，由计算机设定并控制输出集电极电压VCC值到被测器件的测试要求值（一般为被测器件额定电压的1/2），设定±VGG到测试要求值，开关被测器件DUT一次，被测器件的开冲持续时间必须保证DUT完全饱和，轨道交通用IGBT测试仪厂家，同时监测集电极电流IC、栅极-发射极电压VGE和集电极-发射极电压VCE，记录下被测器件IC、VCE以及VGE的波形，其中，VCE采样到示波器的CH1通道，轨道交通用IGBT测试仪批发，IC取样到示波器的CH2通道，VGE采样到示波器的CH3通道，示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机，由计算机对测试波形进行分析与计算，后显示测试结果。2反向***技术条件测试参数：1、Irr(反向***电流)：50～1000A50～200A±3%±1A200～1000A±3%±2A2、Qrr(反向***电荷)：1～1000uC1～50uC±5%±0。大功率半导体器件为何有老化的问题？任何产品都有设计使用寿命，同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护，延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。功率元件由于经常有大电流往复的冲击，对半导体结构均具有一定的耗损性及***性，若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘，更会加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一样是不可避免的问题。5包装、标志和运输卖方负责整套设备的包装和运输，并负担由此产生的费用。华科智源IGBT测试仪针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统；从检测部分传输的数据经上位机处理后可自动列表显示相应测试数据。自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作），计算机可以记录测试结果，测试结果可转化为文本格式存储，轨道交通用IGBT测试仪，测试方法灵活（可测试器件以及单个单元和多单元的模块测试），轨道交通用IGBT测试仪加工，安全稳定（对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁），具有安全保护功能，测试速度方便快捷。轨道交通用IGBT测试仪-华科IGBT静态参数由深圳市华科智源科技有限公司提供。行路致远，砥砺前行。深圳市华科智源科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为电子测量仪器具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)