为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，大功率IGBT测试仪价格，因而使温度升高，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。（2）主要技术参数1）基本参数功率源：5000V1200A2）栅极-发射极漏电流IGESIGES：0。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，大功率IGBT测试仪加工，所以，必须即早发现更换。技术要求3.1整体技术指标3.1.1功能与测试对象*1）功能GBT模块动态参数测试。*2）测试对象被测器件IGBT模块动态参数。测试温度范围Tj=25°及125°。3.1.2IGBT模块动态测试参数及指标测试单元对IGBT模块和FRD的动态参数及其他参数的定义满足IEC60747-9以及IEC60747-2。以下参数的测试可以在不同的电压等级、电流等级、温度、机械压力、回路寄生电感以及不同的驱动回路参数下进行。9、系统保护功能9.1有完备的安全控制单元，大功率IGBT测试仪，动态测试设备有传感器来保证操作者安全，设备任何门被打开均能快速切断高压电源。9.2有急停按钮，当急停按钮被按下时，迅速切断所有高压电源。9.3系统带有短路保护功能，在过载时迅速断开高压高电流。9.4操作系统带有多级权限。9.5系统应配有内置ups，保证计算机系统在电网短时间掉电情况下，为系统供电0.5小时以上，确保系统及数据安全。10、样品夹具10.1有通用测试夹具。10.2带有62mm封装测试夹具10.3带有EconoPACK3封装测试夹具10.4带有34mm封装测试夹具大功率IGBT测试仪-华科IGBT测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。“IGBT测试仪,功率器件测试仪,首件检测仪”选择深圳市华科智源科技有限公司，公司位于：深圳市宝安区西乡街道智汇创新中心B座606，多年来，华科智源坚持为客户提供好的服务，联系人：陈少龙。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。可移动型仪器，使用方便，测试简单快速，立即提供测试结果与数值。华科智源期待成为您的长期合作伙伴！)