封装用IGBT测试仪-华科分立器件测试仪
IGBT动态参数测试系统技术要求1、设备概述该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件,封装用IGBT测试仪现货供应,设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件,所有资料必须准备(正本、副本)各一份,封装用IGBT测试仪,电子版一份;IGBT静态参数测试部分主要材料技术要求1)阈值电压测试电路阈值电压测试电路(仅示出IEC标准测试电路)。(正本、副本)技术资料,应至少有一份采用中文,另一份技术资料可以是英文或中文。华科智源IGBT测试仪针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统;3-2002印制板的设计和使用GB/T9969-2008工业产品使用说明书总则GB/T6988-2008电气技术用文件的编制GB/T3859。自动化程度高(按照操作人员设定的程序自动工作),计算机可以记录测试结果,测试结果可转化为文本格式存储,封装用IGBT测试仪批发,测试方法灵活(可测试器件以及单个单元和多单元的模块测试),安全稳定(对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁),具有安全保护功能,测试速度方便快捷。4验收和测试3)验收试验应在-10~40℃环境温度下进行,验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。4)测试单元发货到买方前,卖方应进行出厂试验。卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估,封装用IGBT测试仪价格,通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。200~1000±2%±5nstr、tf上升/下降时间10~1000ns10~200±2%±2ns。否则,需按买方提出的修改意见重新制定出厂试验方案,直至买方评估合格。封装用IGBT测试仪-华科分立器件测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司坚持“以人为本”的企业理念,拥有一支高素质的员工***,力求提供更好的产品和服务回馈社会,并欢迎广大新老客户光临惠顾,真诚合作、共创美好未来。卖方对技术规范保证数据的有效性及交货保质期等应由双方协商确定并签署在合同中。华科智源——您可信赖的朋友,公司地址:深圳市宝安区西乡街道智汇创新中心B座606,联系人:陈少龙。)