封装用IGBT测试仪-华科IGBT测试设备
大功率半导体器件为何有老化的问题?任何产品都有设计使用寿命,封装用IGBT测试仪,同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护,延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。当大功率元件在作导通参数的测试时,电流必须大到其所能承受的正常工作值,同时,在作关闭参数的漏电流测试时,电压也必须够高,以元件在真正工作状态下的电流与电压,如此其老化的程度才可显现。功率元件由于经常有大电流往复的冲击,对半导体结构均具有一定的耗损性及***性,若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘,更会加速元件的老化程度,封装用IGBT测试仪厂家,故元件老化,就如人的老化一样是不可避免的问题。14)工控机及操作系统用于控制及数据处理,封装用IGBT测试仪加工,采用定制化系统,主要技术参数要求如下:?机箱:4Μ15槽上架式机箱;?支持ATX母板;?CPΜ:INTEL双核;?主板:研华SIMB;?硬盘:1TB;内存4G;?3个5.25”和1个3.5”外部驱动器;?集成VGA显示接口、4个PCI接口、6个串口、6个ΜSB接口等。?西门子PLC逻辑控制15)数据采集与处理单元用于数据采集及数据处理,主要技术参数要求如下:?示波器;高压探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求?电流探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求?状态监测:NI数据采集卡?上位机:基于Labview人机界面?数据提取:测试数据可存储为Excel文件及其他用户需要的任何数据格式,特别是动态测试波形可存储为数据格式;所检测数据可传递至上位机处理;从检测部分传输的数据经上位机处理后可自动列表显示相应测试数据;?数据处理和状态检测部分内容可扩展测试大功率元件应用范例说明?2011年,我们在深圳地铁运营公司前海车辆段大修车间,进行了实际的展示与操作,厂方提供了许多元件来测试,其中一部份由于损毁严重,在一开始的功能与元件判别过程,即被判出局,而未进入实质的参数量测,也有全新的IGBT,封装用IGBT测试仪批发,量测结果完全合乎出厂规格.对其测试数据极为满意,解决了特大功率器件因无法测试给机车在使用带来的工作不稳定、器件易烧坏、易等问题。2机台可测IGBT项目及测试范围VGE(th)栅极阈值电压VCES集射极截止电压ICES集射极截止电流VCE(sat)饱和导通压降Iges栅极漏电流VF二极管导通电压可以测5000V,1600A以下的IGBT模块*3。用户能对旧品元件作筛选,留下可用元件,确实掌握设备运转的可靠度。封装用IGBT测试仪-华科IGBT测试设备由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司是一家从事“IGBT测试仪,功率器件测试仪,首件检测仪”的公司。工作湿度9)尖峰***电容用于防止关断瞬态过程中的IGBT器件电压过冲。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“华科智源,HUSTEC,”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使华科智源在电子测量仪器中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!)
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