FLUKE电阻不平横测试,福禄克TCL测试
FLUKE电阻不平横测试,福禄克TCL测试,此测试仅DSX-5000,DSX-8000,DSX2-5000,DSX2-8000可测,与常规的通道测试相比,此项测试更加耗时,同时也比DTX系列报告多了:电阻不平衡,TCL横向转换损耗,ELTCTL等位横向变换转移损耗,CDNEXT共模到差模近端串扰,CMRL共模回波损耗值等等。测试预约咨询丁小姐。福禄克DSX系列参数特性分析:包括接线图、长度,传输时延,时延偏离,电阻值,衰减损耗,频率,极限值,近端串扰,综合近端串扰,远端衰减串扰比,综合远端衰减串扰比,近端衰减串扰比,综合近端衰减串扰比,回波损耗,另含HDTDR时域反射技术,HDTDX时域串扰技术。(电阻不平衡测试,TCL横向转换损耗,ELTCTL等位横向变换转移损耗,CDNEXT共模到差模近端串扰,CMRL共模回波损耗))