一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，测厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数，主要由准直器控制组成，电镀测厚仪，但也受其它条件限制：1、受高压、光管限制，因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。2、受仪器结构限制，相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积，同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm，EDX1800B测量面积达到直径0.5mm，CMI900测量面积达到0.3mm，而XTU-A面积可以达到0.218.一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，荧光测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题常规镀层厚度分析仪的原理对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，涂层测厚仪，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关**和国际标准中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。江苏一六仪器**涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。单镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu，Au/Ni/Cu/Fe，等等一、功能1.采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T16921-2005标准（等同ISO3497：2000、ASTMB568和DIN50987）。2.镀层层数：多至5层。3.测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2—0.8毫米。4.测量时间：通常30秒。5.测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。6.可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。测厚仪-江苏一六仪器-涂层测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是江苏苏州,专用仪器仪表的企业，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在一六仪器**携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创一六仪器更加美好的未来。)