测厚仪厂家-一六仪器(在线咨询)-宁德测厚仪
一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集,宁德测厚仪,**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡深凹槽20mm以上镀层厚度分析仪使用注意事项1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。2.镀层厚度分析仪为精密仪器,建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(UPS)。3.镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。5.仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。6.为避免短路,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,否则会造成读数错误。9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。江苏一六仪器X荧光镀层测厚仪一六仪器、一liu品质!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系!1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,测厚仪厂家,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,膜厚测试仪,防止样品碰创探测器窗口3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸小至为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时,镀层测厚仪,测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时,152.4mmXY轴手动时,269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名**通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪一六仪器X荧光光谱测厚仪镀层分析X射线荧光光谱特点1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。2.可测试超薄的镀层。3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。8.可以对样品进行测试9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样测厚仪厂家-一六仪器(在线咨询)-宁德测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是从事“测厚仪,标准片”的企业,公司秉承“诚信经营,用心服务”的理念,为您提供高质量的产品和服务。欢迎来电咨询!联系人:邓女士。)