大功率模拟集成电路随着集成电路产业快速发展，数字电压表的设计，集成电路的集成度越来越高，内部结构也越来越复杂，对于测试的要求也越来越高。集成电路测试技术作为保障集成电路性能、质量的重要技术之一也得到了很快的发展。直流参数测试是集成电路测试技术的重要组成部分，能够快速有效的检测芯片的性能，受到集成电路测试行业的高度重视。实现了一种大功率直流参数测试的研制，可以实现高电压、大电流的直流参数测试，具有很高的测试精度，而且具有一定的通用性。首先根据文献资料分析本课题研究的背景以及意义，介绍了集成电路测试系统组成、分类以及国内外的发展状况。介绍了集成电路直流参数测试的基本原理与方法，在此基础上分析了大功率模拟集成电路直流参数测试的设计需求，提出了设计需要实现的功能与设计指标，数字电压，构建了大功率模拟集成电路直流参数测试实现的原理方案;设计了接口控制模块、逻辑控制模块与精密测量单元，详细分析了精密测量单元的工作原理，并搭建了具体的硬件电路;根据硬件所需要实现的测试功能，设计了测试底层驱动函数，提供给应用软件测试函数接口实现可编程测试，并对测试进行了软件校正;后文章给出了功能测试数据与报告，分析了集成运算放大器的测试原理和方法，并给出了测试过程与测试数据，表明测试性能达到了比较好的效果。设计的大功率模拟直流参数测试模块，已经被广东某集成电路制造企业使用，使用效果表明测试模块性能稳定，通用性强，成本低，特别适合国内集成电路企业的应用，具有比较高的实用价值。芯片?与IC关系与IC的关系芯片，英文为Chip;芯片组为Chipset。芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的**的整体。“芯片”和“集成电路”这两个词经常混着使用，比如在大家平常讨论话题中，集成电路设计和芯片设计说的是一个意思，芯片行业、集成电路行业、IC行业往往也是一个意思。实际上，这两个词有联系，也有区别。集成电路实体往往要以芯片的形式存在，因为狭义的集成电路，是强调电路本身，数字电压表分辨率，比如简单到只有五个元件连接在一起形成的相移振荡器，当它还在图纸上呈现的时候，我们也可以叫它集成电路，当我们要拿这个小集成电路来应用的时候，那它必须以**的一块实物，或者嵌入到更大的集成电路中，依托芯片来发挥他的作用;集成电路更着重电路的设计和布局布线，芯片更强调电路的集成、生产和封装。而广义的集成电路，当涉及到行业(区别于其他行业)时，也可以包含芯片相关的各种含义。芯片也有它独特的地方，广义上，只要是使用微细加工手段制造出来的半导体片子，都可以叫做芯片，里面并不一定有电路。比如半导体光源芯片;比如机械芯片，如MEMS陀螺仪;或者生物芯片如DNA芯片。在通讯与信息技术中，当把范围局限到硅集成电路时，芯片和集成电路的交集就是在“硅晶片上的电路”上。芯片组，大量程数字电压表，则是一系列相互关联的芯片组合，它们相互依赖，组合在一起能发挥更大的作用，比如计算机里面的处理器和南北桥芯片组，手机里面的射频、基带和电源管理芯片组。集成电路(IC)被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程，被认为是IC产业的4个分支(设计、制造、封装与测试)中一个极为重要的组成部分，它已经成为IC产业发展中的一个瓶颈。有人预计，到2012年，可能会有多达48%的好芯片不能通过测试，IC测试所需的费用将在IC设计、制造、封装和测试的总费用中占80%～90%的比例。工业界常采用电压测试和稳态电流(I_(DDQ))测试来测试数字CMOSIC。电压测试包括逻辑测试和时延测试两方面的测试内容，前者验证IC的功能是否正确，后者验证IC的时间特性是否正确。电压测试方法可以检测出大量的物理缺陷，而且比较简单，速度较快。但是，由于电压测试所使用的故障模型存在局限性，而且测试常常不能全速进行，因此一般来说，电压测试只善于验证电路的功能。与电压测试相比，(I_(DDQ))测试更善于检测由于生产过程中的细微偏差而导致的一些“小”缺陷，它的优点是能大幅度地降低测试数字CMOSIC的费用，提高它们的可靠性。但是，(I_(DDQ))测试除不能检测那些不导致(I_(DDQ))增加的缺陷或故障(如串扰故障)之外，还受到深亚微米技术的挑战。瞬态电流(I_(DDT))测试是一种从供电回路，通过观察被测电路所吸取的瞬间动态电流来检测故障的一种方法，被认为可以检测出一些经电压测试和(I_(DDQ))测试所不能检测的故障。这种方法作为传统的电压测试和(I_(DDQ))测试方法的一个补充，正逐渐受到研究领域和工业界的关注。(I_(DDT))测试研究虽然进行了近10年的时间，但目前仍处在初级阶段，所面临的问题很多，离实际应用还有相当一段距离。本研究采用基于积分的平均电流分析法来研究(I_(DDT))测试，进行了一些有益的探索性工作。)