江苏一六仪器XTU系列XTU-BLX荧光光谱仪仪器规格：外形尺寸：550mmx660mmx470mm（长x宽x高）样品仓尺寸：500mm×660mm×215mm（长x宽x高）仪器重量：55kg供电电源：交流220±5V功率：330W环境温度：15℃-30℃环境相对湿度：<70%EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。{江苏一六仪器一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。x射线荧光膜厚测厚仪还应用于五金电镀厚度检测，首饰电镀厚度检测，涂层测厚仪，电子连接件表层厚度检测，电镀液含量分析。电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测，光谱分析仪，铜镀锡件厚度检测，航空材料金属镀层厚度检测。铜箔镀层厚度检测，光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测，铁镀铬镀锌镀镍厚度检测等。一六仪器**测厚仪多道脉冲分析采集，**EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题常规镀层厚度分析仪的原理对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，镀层分析仪，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，徐州测厚仪，在有关**和国际标准中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。涂层测厚仪-一六仪器(在线咨询)-徐州测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司为客户提供“测厚仪,标准片”等业务，公司拥有“江苏一六仪器”等品牌，专注于专用仪器仪表等行业。欢迎来电垂询，联系人：邓女士。)